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BS320u 二次露光以降も両面同時に露光可能 【生産終了につきBS425をご参照下さい】

マニュアル両面同時露光アライナー BS320u 【生産終了につきBS425をご参照下さい】

ba320u

製品概要


BS320uは研究開発から小中ロット製造用に開発された両面同時露光式マスクアライナーです。ベースマシンBS320に特殊な二次合わせステージを付加して二次露光以降も両面同時露光が可能となりました。生産効率の良い作業ができます。

特徴


・デザインルール3μm
・二次合わせステージ搭載で二次露光以降もウェハ両面に同時露光
・最大φ3インチウェハ対応
・ローコスト
・コンパクト設計
・フットスイッチにより簡単に操作できる上マスク開閉
・手置き式のため規格外形状試料への対応が容易
・アライメントマークの多点観察が容易なXY軸顕微鏡ステージ搭載(オプション)

仕様


  • 適用試料 最大φ3インチ(□2インチ)

    ご使用サイズ( φ ± mm) t=    μm
    ご使用サイズ( ± mm× ± mm) t= μm 

  • 適用マスク 最大 □4インチ

    ご使用サイズ( ± mm× ± mm) t=    mm 
    厚さは注文時に0.06、0.09、0.12インチから選択

  • マスク・ウェハサイズ変更

    マスクサイズ変更
    → 上マスクホルダー交換および二次合わせステージの交換による
    ウェハサイズ交換
    → ウェハクランパおよびウェハガイドの交換による片面露光時は試料台の交換となります

  • 露光ランプ仕様及び露光性能

    有効露光範囲 :φ120mm
    照度均一度 :±15%
    主波長領域 :λ=350~450nm
    使用ランプ :超高圧Hgランプ500W
    放射強度 :上側7mW/c㎡以上、下側6 mW/c㎡以上(at365nm)ウシオUIT-101にて測定
    ランプ冷却方式 :強制空冷
    露光解像度 :ライン&スペース3μm
    露光できる最小線幅はレジスト・マスク・ウェハ・露光前工程/後工程等の諸条件により異なることがあります。

  • 露光方式 :コンタクト方式(コンタクト圧可変式)

    ウェハ上面のみプロキシミティ露光が可能。裏面はコンタクト露光のみギャップ測長器(分解能1μm)付属

  • 露光量設定 :上下独立タイマー設定

    設定時間0.3~99.9秒(分解能0.1秒)
    積算光量計制御はオプション

  • アライメント方式

    双対物2視野顕微鏡による上側マスクパターンと下側マスクパターンまたはウェハ上面同時観察によるマニュアルアライメント。上側マスク位置基準(固定)式。

  • アライメント顕微鏡 双眼双対物顕微鏡(標準にて下記3種類の倍率切替可能)

    総合倍率

    92.5

    185

    370

    対物レンズ倍率

    1.85

    接眼レンズ倍率

    10

    拡大レンズ倍率

    5

    10

    20

    視野径 (mm)

    φ1.8

    φ0.9

    φ0.45

    Cマウント結像倍率

    9.25

    18.5

    37

    作動距離WD (mm)

    約 50

    ・対物レンズ間距離 8~90mm
    ・観察照明 ハロゲンランプ+ファイバーライトガイドによる同軸落射式照明
     UVカットフィルター:イエローフィルターを照明光源に取付け
     ※観察照明による不要露光防止のため
     ※上下マスクのアライメント時には下側ランプハウスからの透過光照明も利用可能。
    ・CCDカメラ Cマウント(標準装備)により接続可能
     CCDカメラ、モニター等はオプション

  • マスクアライメントステージ

    X軸(横) :±3mm手動(微動・粗動調整ダイアル)
    Y軸(縦) :±3mm手動(微動・粗動調整ダイアル)
    Z軸(上下) :0~1mmエア駆動方式(コンタクト圧調整レギュレータ付)
                     :0~4mm手動メカ駆動方式(微動調整付き)
                     :ギャップ測長器(オプション)
    θ軸 :±3゜手動(微動)
    平行アジャスト :球面摺動機構真空ロック
    N2パージ :露光部にN2パージ 流量計はオプション

  • 上側マスク駆動ステージ

    駆動方式 :モーター駆動による前後スライド方式
    繰返位置決め精度 :XYZ方向位置精度±1.5μm以内/100回

  • 顕微鏡移動方式 :自在スイングアーム方式

    Z軸(FOCUS調整) :±3mm手動
    露光時退避 :手動
    ☆オプションにて観察位置移動XYステージが搭載可能
    X軸(横)ストローク :±10mm手動
    Y軸(縦)ストローク :±10mm手動

  • ウェハ位置決め :手動

    一次露光時  :手置き
    二次露光以降 :下マスクホルダに設置された二次合わせステージにより試料をクランプ。双眼顕微鏡により上側マスクパターンと試料上面のアライメント後、ウェハ両面の露光。

    ☆ 上下マスクホルダは使用マスクに合わせたサイズで1セット標準添付します。
    ☆下マスクホルダと二次合わせステージは一体構造です。
    ☆片面露光時に必要な試料台は別途オプションとなります。

  • 装置寸法 :1460(H)×1060(W)×780(D)mm

    装置重量 :320㎏以下

  • ユーティリティ

    真空 :600mmHg以上 真空ポンプはオプション
    ドライエア :5㎏/c㎡以上
    窒素 :1㎏/c㎡程度(N2パージが必要な場合のみ)
    電源 :AC100V 30A

保証


 検収後1年間(稼働8時間以内/日として)を保証期間とします。
装置の取扱い、保守を正しくおこなっている状態で故障があった場合、無償にて修理いたします。
但し購入品については購入品メーカーの保証範囲とします。

その他・備考


①本仕様は今後のお打ち合わせにより変更されることがあります。
②最終のお見積りは仕様細部の決定後提出となります。
③製作・評価時に御社試料サンプルが必要となります。貸与願います。
④検収仕様・納品条件等は別途お打ち合わせとなります。

 特殊仕様


【二次アライメントステージの概要】

二次アライメントステージは二次露光以降も両面同時露光を可能にするための機構です。
予めアライメントされた上下マスクの位置関係を変えることなく上下マスク間に配置された
ウェハの位置合わせを厳密に行うことができます。(ウェハを移動させても上下マスクのアライメントを狂わせることはありません)

・ ウェハクランパは左右一対で試料の左右側面から挟み込みます。試料とは点で接触します。
・ ウェハクランパ厚みは試料厚み未満で脱着可能。材質はSUS(ステンレスバネ鋼材)です。
・ ウェハクランパはXYθ軸方向に微動可能です。
(θ軸のストロークは試料外形サイズなど諸条件により変わります)
・ 顕微鏡でウェハクランパ先端部と下マスクパターンをアライメントすることもできます。
(一次露光にて試料外形から露光パターン位置を厳密に決めたい場合に使用できます)

【二次アライメントステージ概略図】

以下は矩形試料をクランプした例です

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